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英國Jandel可調節高度自動探頭的產品類別
更新時間:2023-10-27   點擊次數:2579次

公司簡介:

Jandel工程有限公司提供了可調節高度探針台的自動Z運動(AFPP)用於(yu) 進行四點探針測量。

AFPP可以用於(yu) 測量各種各樣的小樣本大小薄層和300毫米晶圓錠250毫米高(厚的樣品安置在請求)。

可以使用AFPP獨立提供的電源適配器,或者可以動力和由Jandel RM3000使用單一鉛連接這兩(liang) 個(ge) 工具之間。

英國Jandel可調節高度自動探頭產(chan) 品類別:

l jandel四探針探頭

l jandel四探針

l jandel探頭

l jandel探針台

主要型號:

設備尺寸

1.可調節高度測試台:W×L×H(mm)320×370×8

2.AFPP主機:W×L×H(mm)64×215×67

3.可調節高度軸杆:d(mm)19;L(mm)200(可定製額高度到1000mm)

A-D型號和E-H型號

產(chan) 品介紹:

l 可測晶片直徑:直徑d≤300mm

l 可測晶片厚度:高度h≤250mm

l 自動停機:具有接觸到樣品的傳(chuan) 感器(通過傳(chuan) 感器檢測接觸到樣品)

l 手動控製:遠程控製

l Jandel-RM300能夠提供電源和樣品接觸

優(you) 勢特點:

係統配置

組成部件(產(chan) 品配置):

1.測試台——1個(ge)

2. AFPP主機——1個(ge)

3.可調節高度的軸杆——1根

4.四探針探頭——1個(ge)

5.電纜線——一根

英國Jandel可調節高度自動探頭主要應用:

用於(yu) 半導體(ti) 行業(ye) 以及大學,實驗室工作和研究應用的電阻率測量設備。



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