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歐洲采購德國confovis  WAFERinspect AOIAOI測量係統

公司簡介

onfovis 是工業(ye) 應用光學 3D 測量係統的係統供應商。自 2009 年以來，該公司一直專(zhuan) 注於(yu) 麵向客戶和應用的解決(jue) 方案。Confovis獲得的“結構照明顯微鏡"共聚焦顯微鏡為(wei) 工業(ye) 應用的快速和納米級表麵分析開辟了新的前景。使用最新一代的測量係統, Confovis 在單個(ge) 係統中結合了共焦測量技術和焦距變化。通過這樣做，測量設備專(zhuan) 家為(wei) 汽車和航空航天、工具製造和機械工程、冶金、半導體(ti) 和光學行業(ye) 的行業(ye) 客戶提供了一種節省時間和成本的解決(jue) 方案，用於(yu) 大多數不同的測量任務，例如微輪廓測量和粗糙度測量溯源到認證標準，按照有效的規範

產(chan) 品簡介

快速共焦 3D 測量– 不受材料影響

2D 測量：關(guan) 鍵尺寸：線/空間、支柱、覆蓋（Halcon、Cognex-Software）

高度自動化：從(cong) 晶圓處理到結果

通過SECS/GEM向主機提供詳細信息

通過精細對準、KLARFF 文件和簡單的操作模式進行目視檢查

產(chan) 品型號

歐洲采購德國confovis  WAFERinspect 表麵測量係統

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